[1]
Forero, H.J., Molina González, C., Restrepo Parra, E. y Cubillos, A.D. 2004. Caracterización con espectroscopía óptica de emisión de un plasma utilizado en la producción de recubrimientos de tio2. Scientia et Technica. 3, 26 (ene. 2004).