Jiménez G., Francy Nelly, Carlos Vargas Hernández, y Jesús Fabián Jurado. 2008. «La técnica De Fotorreflectancia Para Analizar Propiedades ópticas Y mecánicas De Muestras Semiconductoras». Scientia Et Technica 2 (39). https://doi.org/10.22517/23447214.3267.