Jiménez G., Francy Nelly, Carlos Vargas Hernández, y Jesús Fabián Jurado. «La técnica De Fotorreflectancia Para Analizar Propiedades ópticas Y mecánicas De Muestras Semiconductoras». Scientia et Technica 2, no. 39 (agosto 30, 2008). Accedido noviembre 7, 2024. https://ojs2.utp.edu.co/index.php/revistaciencia/article/view/3267.