1.
Forero HJ, Molina González C, Restrepo Parra E, Cubillos AD. Caracterización con espectroscopía óptica de emisión de un plasma utilizado en la producción de recubrimientos de tio2. Sci. tech [Internet]. 12 de enero de 2004 [citado 22 de noviembre de 2024];3(26). Disponible en: https://ojs2.utp.edu.co/index.php/revistaciencia/article/view/7089