La técnica de fotorreflectancia para analizar propiedades ópticas y mecánicas de muestras semiconductoras


Autores/as

  • Francy Nelly Jiménez G.
  • Carlos Vargas Hernández
  • Jesús Fabián Jurado

DOI:

https://doi.org/10.22517/23447214.3267

Resumen

Se presenta una revisión de la técnica de Fotorreflectancia (FR) desde su fundamentación teórica hasta algunas de sus aplicaciones. La fotorreflectancia es una técnica de modulación no destructiva que no requiere preparación previa de la muestra, es empleada ampliamente para el estudio de la estructura electrónica de semiconductores, con ella se pueden determinar las energías de los puntos críticos las cuales brindan información, entre otras de los esfuerzos presentes en las muestras.

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Publicado

2008-08-30

Cómo citar

Jiménez G., F. N., Vargas Hernández, C., & Jurado, J. F. (2008). La técnica de fotorreflectancia para analizar propiedades ópticas y mecánicas de muestras semiconductoras. Scientia Et Technica, 2(39). https://doi.org/10.22517/23447214.3267

Número

Vol. 2 Núm. 39 (2008)

Sección

Ciencias Básicas

Licencia

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